該測試設(shè)備適用于IGBT、SiC MOSFET、GaN、和Diode，可全面評估功率半導(dǎo)體器件的熱特性，幫助功率半導(dǎo)體生產(chǎn)廠家與應(yīng)用廠家加速其產(chǎn)品的開發(fā)速度。