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熱阻測試儀

產(chǎn)品介紹

該測試設備適用于IGBT、SiC MOSFET、GaN、和Diode,可全面評估功率半導體器件的熱特性,幫助功率半導體生產(chǎn)廠家與應用廠家加速其產(chǎn)品的開發(fā)速度。

產(chǎn)品功能
自動化K系數(shù)標定
瞬態(tài)熱阻抗測量
結(jié)構(gòu)函數(shù)分析
產(chǎn)品特點
采用模塊化設計
可自由搭配組件
測試電源每個模組300A/10V
最大可配置3個模組
配備4個獨立測試工位
產(chǎn)品規(guī)格表