該測試平臺主要用于加速功率半導(dǎo)體器件的老化速度，可將其10-30年的運行壽命縮短至3個月以內(nèi)，并且在老化過程中，實時全方位電熱性能的監(jiān)測，深度評估被測功率半導(dǎo)體的可靠性與壽命。