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截止目前，直流功率循環(huán)老化試驗主要由以下幾種控制策略：
①?固定導通關斷時間的循環(huán)時間控制策略 在這一策略中，老化試驗期間導通、關斷時間保持常數(shù)，通過對驅動電壓 Vge，冷卻系統(tǒng)水溫、加熱電流幅值的控制，實現(xiàn)不同結溫波動ΔTj 或?ΔTc 的功率循環(huán)。老化試驗期間，模塊的老化衰退會增加ΔTj，從而會顯著縮短故障壽命。
②?恒定電流控制策略 這一策略中加熱電流為常量，無其他控制參量。采用這種控制策略，試驗前要根據(jù)老化的 IGBT 型號和預期結溫最大值 Tjmax 和結溫波動?ΔTj，通過多次試驗確定加熱電流Ih、加熱時間ton、關斷時間toff，然后開始老化試驗。此方法也會縮短壽命。
③?恒定功率損耗控制策略。 這一策略通常與固定導通、關斷時間的方法結合在一起，通過控制加熱電流Ih或柵極驅動電壓Vge使得每個加熱階段的功率損耗為常數(shù)。測試期間，單個鍵合線的故障增加功率器件的通態(tài)電壓降，從而增加功率損耗。恒定功率損耗的控制策略將會人為的降低器件的損耗，從而延長器件的壽命。
④?恒定結溫波動?ΔTj?的控制策略 在這一策略中，控制每個加熱階段的結溫值。通常情況下，循環(huán)試驗中通過控制導通、關斷時間使溫度波動保持恒定，但也通過改變柵極電壓來控制電流和電壓降保持溫度波動恒定。但是這種控制策略下，IGBT老化衰退并不能改變溫度波動，這會過高估計 IGBT 的壽命。
⑤?恒定殼溫波動?ΔTc 的控制策略.通常情況下，這一策略通過改變加熱電流的導通和關斷時間控制殼溫波動恒定，導通和關斷時間主要取決于加熱電流值的大小。為縮小結溫Tj與外殼溫度Tc之間的溫度差，需要在較長的時間周期內升降外殼溫度Tc，這一點與ΔTj功率周期試驗中的試驗條件不同。
對五種控制策略實現(xiàn)方法總結如表?1.1
另外一個很重要的影響因素我們需要記住的結論是，短周期的功率循環(huán)次數(shù)長，考驗綁定線鍵合能力。長周期的功率循環(huán)次數(shù)少，考驗綁定線和焊料層可靠性。如果到達分鐘級別的周期（通常5min），那么影響就和TC的影響靠近了，絕緣基板 DCB 下面焊層的壽命,這時就是PCmin,如下圖。
最后總結一下今天灌水的內容。
1、總結了四種PC控制的方法，并說明了四種方法對循環(huán)壽命的影響。
2、粗暴的說明了一下什么是分鐘級功率循環(huán)，什么是秒級功率循環(huán)，以及他們影響封裝的哪些位置。
參考文獻：
1、IGBT快速功率循環(huán)老化試驗裝置的研究與設計_劉洪紀
2、Application Mannual Note, fuji fuji